《《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》》課程詳情
點(diǎn)擊下載課大綱及報(bào)名表 ■ 課程背景
◇測(cè)試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。
◇建立可測(cè)試性設(shè)計(jì)是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵，尤其是那些對(duì)工作可靠性要求高的系統(tǒng)。
◇若沒有可測(cè)試性設(shè)計(jì)，在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測(cè)和診斷。
◇采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以增加系統(tǒng)的可測(cè)試性，提高產(chǎn)品質(zhì)量，并減少產(chǎn)品投放市場(chǎng)的時(shí)間及測(cè)試費(fèi)用。

■ 課程內(nèi)容
1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
 產(chǎn)品生命周期V模型
 電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問題
 什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
※思考：如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
 可測(cè)性的物理特征表述
 可測(cè)性的測(cè)度形式
※※討論：以下各功能模塊的可測(cè)性測(cè)度是怎樣的？
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
 IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過程
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語及縮略語
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
 整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
※思考：單板生產(chǎn)測(cè)試的目的是什么？
 單板生產(chǎn)測(cè)試路線
 單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
 單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理
 單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的？
 JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用
 JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
 單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？
3、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部儀器輸入輸出接口
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
 BIST設(shè)計(jì)——通道分層環(huán)回
 BIST設(shè)計(jì)——故障診斷
 BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢
▲▲案例解讀
4、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
 機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
 自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
 工裝夾具設(shè)計(jì)
 測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)
 芯片控制引腳設(shè)計(jì)
 邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)
 EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
 如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
5、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
※※交流與探討：如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)

《《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》》培訓(xùn)受眾
電子信息企業(yè)系統(tǒng)工程師、研發(fā)部經(jīng)理、測(cè)試部經(jīng)理、制造技術(shù)部經(jīng)理、新產(chǎn)品導(dǎo)入(NPI)經(jīng)理，及研發(fā)工程師等

《《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》》課程目的
本課程介紹了業(yè)界先進(jìn)的可測(cè)性設(shè)計(jì)的方法和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合業(yè)界知名公司的成功實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和案例，采用模板演示講解和案例討論的方式，具體講述了可測(cè)性設(shè)計(jì)的方法和具體實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)、操作技巧以及IT工具，著重于提高學(xué)員的產(chǎn)品測(cè)試實(shí)踐技能，注重課程的實(shí)操性，能有效地借鑒和快速地應(yīng)用到實(shí)際工作中去。
學(xué)完本課程后，學(xué)員可獲得：
▲深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
▲熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
▲全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
▲有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)

《《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》》所屬分類
生產(chǎn)管理

《《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》》授課培訓(xùn)師簡介

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