1、可測性設(shè)計(DFT)概述
 產(chǎn)品生命周期V模型
 電子信息產(chǎn)品測試所面臨的問題
 什么是可測性設(shè)計(DFT)
※思考：如何深刻理解可測性設(shè)計(DFT)
 可測性的物理特征表述
 可測性的測度形式
※※討論：以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的？
 可測性設(shè)計(DFT)的效益分析
 可測性設(shè)計(DFT)基本要素
 IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
 可測性設(shè)計(DFT)基本過程
 可測性設(shè)計(DFT)中常用術(shù)語及縮略語
2、可測性設(shè)計(DFT)需求
 整機研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源
 整機研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
 單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源
 單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
 單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源
 單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
 單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求來源
 單板生產(chǎn)測試的抽象模型
※思考：單板生產(chǎn)測試的目的是什么？
 單板生產(chǎn)測試路線
 單板生產(chǎn)工藝測試基本原理
 單板生產(chǎn)功能測試基本原理
 單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求
※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測試方案和路線是怎樣的？
 JTAG在生產(chǎn)測試中的應(yīng)用
 JTAG在生產(chǎn)測試中的可測性設(shè)計(DFT)需求
 單板維修可測性設(shè)計(DFT)需求
※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？
3、可測性設(shè)計(DFT)基本方法
 輸入輸出通道設(shè)計——測試控制物理通道
 輸入輸出通道設(shè)計——外部測試命令集
 輸入輸出通道設(shè)計——測試控制管理
 輸入輸出通道設(shè)計——測試信息存儲與輸出
 輸入輸出通道設(shè)計——外部儀器輸入輸出接口
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——差錯數(shù)據(jù)源自動生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——容限/極限數(shù)據(jù)源自動生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——故障數(shù)據(jù)源自動生成
 能控性設(shè)計——測試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動
 能觀性設(shè)計——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計——單板運行狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
 BIST設(shè)計——初始化自檢

▲▲案例解讀
4、單板可測性設(shè)計(DFT)必須考慮的要素
 機械結(jié)構(gòu)設(shè)計
 自檢和自環(huán)設(shè)計
 工裝夾具設(shè)計
 測試點設(shè)計
 芯片控制引腳設(shè)計
 邊界掃描測試設(shè)計
 EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計
 如何設(shè)計以減少測試點
5、可測性設(shè)計(DFT)工程實施
 可測性設(shè)計(DFT)工程實施步驟
 可測性設(shè)計(DFT)工程實施障礙
※※交流與探討：如何構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)體系和貨架技術(shù)