《電子元器件失效分析技術及經典案例》課程詳情
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【第一天課程內容】第一講 電子元器件失效分析程序和方法
第一節(jié) 失效分析的作用
第二節(jié) 概述
第三節(jié) 失效分析前期工作
1.基本概念
2.信息分析
3.失效模式確認
4.掌握樣品失效的可能
第四節(jié) “找證據”
1.概述
2.外觀分析
3.內部非破壞性分析
包括:電分析、應力試驗與電分析、X-RAY、C-SAM、XCT、PIND、氣密封裝檢漏等。
4.內部半破壞性分析
包括:開封、內部可動粒子收集和分析、內部氣氛分析、不加電內部分析、加電內部分析。
5.內部破壞性分析
第五節(jié) 綜合分析
第六節(jié) 失效分析報告
第七節(jié) 失效分析中應注意的問題
第八節(jié) 失效分析應用
【第二天課程內容】
第二講 失效分析經典案例
第一節(jié) 失效分析全過程分析案例
第二節(jié) 靜電與閂鎖失效分析案例
第三節(jié) 電浪涌失效分析案例
第四節(jié) 機械應力失效分析案例
第五節(jié) 結構缺陷失效分析案例
第六節(jié) 熱變應力失效分析案例
第七節(jié) 材料缺陷失效分析案例
第八節(jié) 制造工藝缺陷失效分析案例
第九節(jié) 整機設計缺陷失效分析案例
第十節(jié) 污染腐蝕失效分析案例
第十一節(jié) 元器件固有機理失效分析案例
第十二節(jié) 其他失效分析案例
1. 觸點問題
2. 連接器問題
3. 形貌細節(jié)問題
4. 開路問題
5. 插座扳手脫落問題
6. 沒見過的失效問題
7. ESD保護器件問題
《電子元器件失效分析技術及經典案例》培訓受眾
電子元器件、電路板或整機企業(yè)的設計工程師、質量工程師、工藝工程師、可靠性工程師、失效分析工程師等。
《電子元器件失效分析技術及經典案例》課程目的
“失效分析技術”讓您系統了解失效的程序與方法,掌握失效分析的各種分析手段(儀器、設備);“經典案例”讓您掌握電子產品的主要失效模式和失效機理,掌握失效分析的核心:分析思路,機理的識別,分析手段(儀器、設備)的應用技巧。
《電子元器件失效分析技術及經典案例》所屬分類
生產管理
《電子元器件失效分析技術及經典案例》所屬專題
失效分析、
《電子元器件失效分析技術及經典案例》授課培訓師簡介
李老師
我國電子產品失效分析領域權威專家.24年來一直從事電子產品可靠性技術研究工作,曾經主持參加眾多軍用電子元器件
可靠性研究課題,多次獲得各級科研成果獎項,先后參與《失效分析經典案例100例》和《電子元器件失效技術》的編寫。曾為:華為、中興集團、海爾集團、美的集團、廈華、飛通、廣東核電等上百家企業(yè)進行內訓及公開授課,學員累計數千人。主要培訓的企業(yè)有:美的失效分析實驗室建設技術咨詢和失效分析技術培訓,海爾檢測中心的技術咨詢和失效分析技術培訓,廣東核電進行電子元器件老化技術,繼電器老化管理,板件老化管理培訓,中興通訊的失效分析技術培訓,富士康失效分析技術現場研討,中國賽寶實驗室元器件可靠性研究分析中培訓學員的實習指導,以及失效分析專題公開培訓。先后參與《失效分析經典案例100例》和《電子元器件失效技術》的編寫。