《電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班》課程詳情
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課程背景
白盒測試的核心是波形診斷、器件參數(shù)分析、器件失效機理激發(fā)等內(nèi)容，通過對具體深入細節(jié)的測試測量，與預(yù)期標準參數(shù)、波形對比，發(fā)現(xiàn)其中的隱患。本課程著重從被測對象的隱患點、外部應(yīng)力、過渡過程、器件失效機理、工藝隱患等幾個方面展開測試用例設(shè)計，既講解了測試用例的思考分析方法，又深入展開了細節(jié)的具體問題點分析。
通過本課程，可以快速積累測試經(jīng)驗、掌握測試項目的選擇和測試用例的設(shè)計方法，為企業(yè)產(chǎn)品通過測試把關(guān)的方式實現(xiàn)產(chǎn)品可靠性短期內(nèi)大幅度的提升保駕護航。
課程特點:案例教學、深入淺出、實踐結(jié)合理論推理；
課程提綱:講課內(nèi)容屆時根據(jù)實際情況會有所調(diào)整。
1、 測試基礎(chǔ)
1.研發(fā)樣機測試與中試樣機測試的區(qū)別
2.原理驗證和一致性驗證的判據(jù)區(qū)別
3.測試的工具方法類型（模擬測試、仿真、工程計算、規(guī)范審查）
4.基于單一故障的接口故障分析及測試模擬方法
5.測試覆蓋率與MECE方法
2、波形診斷
1.電路常見異常波形的種類
2.回勾波形的成因與應(yīng)對措施
3.過沖波形的成因與應(yīng)對措施
4.振蕩波形的成因與應(yīng)對措施
5.平臺波形的成因與應(yīng)對措施
6.塌陷波形的成因與應(yīng)對措施
7.鼓包波形的成因與應(yīng)對措施
3、參數(shù)計算與審查
1.WCCA參數(shù)分析
2.容差計算
3.蒙特卡洛分析方法
4.降額審查
5.熱測試與計算
6.常用各類電路里器件參數(shù)計算審查（電容、電感、磁珠、電阻、開關(guān)管等）
4、一致性測試及測試數(shù)據(jù)分析
1.批次數(shù)據(jù)分析
2.正態(tài)分布的工程意義
3.各種異化正態(tài)分布曲線的含義與機理
5、單一故障分析與模擬測試
1.設(shè)計調(diào)查表
2.用戶現(xiàn)場環(huán)境條件（環(huán)境對產(chǎn)品零部件的失效影響及模擬測試方法）
3.人機接口條件（操作者認知與習慣的潛在隱患防護）
4.關(guān)聯(lián)設(shè)備的相互影響（能量與信號輸入輸出的相互潛在影響及模擬測試方法）
6、基于失效機理的應(yīng)力測試
1.常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應(yīng)力
2.針對失效機理的模擬測試用例設(shè)計
7、軟件測試
1.路徑覆蓋的測試用例設(shè)計方法
2.數(shù)據(jù)覆蓋的測試用例設(shè)計方法
3.黑盒測試與白盒測試的測試用例設(shè)計方法
8、器件質(zhì)量控制測試
1.光學檢測
2.參數(shù)測試與統(tǒng)計分析
3.IV曲線測試
9、標準符合性測試
1.通用標準測試項目
2.安規(guī)（通用安規(guī)要求、安規(guī)測試判據(jù)、氣、液、電混合布局安規(guī)測試用例）
3.電磁兼容
4.產(chǎn)品內(nèi)部不同類型模塊之間的相互影響檢查與測試
10、基于失效機理的應(yīng)力測試
1.常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應(yīng)力
2.針對失效機理的模擬測試用例設(shè)計
11、應(yīng)力變化率測試
1.環(huán)境應(yīng)力變化率的影響
2.負載應(yīng)力變化率的影響
3.能量及信號輸入變化率的影響
4.過渡過程應(yīng)力對設(shè)備故障的影響
12、組合應(yīng)力測試
1.現(xiàn)場多應(yīng)力組合示例
13、器件失效特征規(guī)律和故障原因分析方法
1.電流應(yīng)力與電壓應(yīng)力的故障特征區(qū)別
2.突發(fā)浪涌應(yīng)力與持續(xù)過電應(yīng)力的故障特征區(qū)別
《電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班》培訓(xùn)受眾
測試工程師、系統(tǒng)工程師、項目經(jīng)理、技術(shù)部經(jīng)理、研發(fā)高管等
《電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班》所屬分類
特色課程
《電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班》所屬專題
產(chǎn)品經(jīng)理培訓(xùn)、
產(chǎn)品中試管理培訓(xùn)、
產(chǎn)品測試管理、
《電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班》授課培訓(xùn)師簡介
武老師
電子工程碩士，研究領(lǐng)域：電子產(chǎn)品系統(tǒng)可靠性設(shè)計與測試技術(shù)。曾任航天二院總體設(shè)計所設(shè)計師，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。對電子產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計有較深入研究，曾在學術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章，曾出版專業(yè)書籍《嵌入式系統(tǒng)可靠性設(shè)計技術(shù)與案例解析》（北航出版社）。曾為航天、中電、中科院、航空、醫(yī)療電子、通信、安防、電力電子、分析儀器、工業(yè)控制、消費類電子等多個行業(yè)上百家客戶提供相關(guān)培訓(xùn)和圖紙審核輔導(dǎo)技術(shù)服務(wù)。專注于電子工程設(shè)計、工程數(shù)學、技術(shù)方法論三者相結(jié)合的研究，擅長于將高深的理論知識轉(zhuǎn)化為符合企業(yè)技術(shù)和經(jīng)營特性的可操作實踐方法。
授課方法：授課、答疑、交流。學習結(jié)束后由中國電子工業(yè)技術(shù)發(fā)展研究會向?qū)W員頒發(fā)結(jié)業(yè)證書。
《電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班》報名服務(wù)流程
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